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| Imagen | parte # | Descripción | fabricante | Común | RFQ | |
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Se aplicarán los siguientes requisitos: |
Los datos de las pruebas de detección se utilizarán en el ensayo.
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Diodos incorporados
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Se aplicará el procedimiento siguiente: |
IC MUX 8:1 100OHM 16SOIC y otros productos químicos
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En el caso de las
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DG2735ADN-T1-GE4 |
Los datos de las pruebas de seguridad de los equipos de ensayo deberán estar disponibles en el formu
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Vishay Siliconix
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el número 74HC4051PW,118 |
IC MUX 8:1 120OHM 16TSSOP y otros productos de la misma clase
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Nexperia EE.UU. Inc.
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el número de unidad de carga de la unidad de carga,118 |
IC MUX 16:1 120OHM 24TSSOP y el resto de los productos
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Nexperia EE.UU. Inc.
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DG468DV-T1-E3 |
Los datos de las pruebas de detección se deben incluir en el anexo I del Reglamento (UE) n.o 528/201
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Vishay Siliconix
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74HC4051D, 653 |
IC MUX 8:1 120OHM 16SO
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Nexperia EE.UU. Inc.
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